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  • DP-HT-648變溫霍爾效應實(shí)驗儀

    變溫霍爾效應實(shí)驗儀霍爾效應的測量是開(kāi)展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數據采集和處理在80K-400K溫度范圍內對霍爾系數和電導率的聯(lián)合測量，行半導體導電機制及散射機制的研究，并可確定半導體的些基本參數，如導電類(lèi)型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質(zhì)電離能等。

    更新時(shí)間：2022-05-30
    產(chǎn)品型號：DP-HT-648
    瀏覽量：1281
  • DP-JK-JL餾實(shí)驗儀

    餾實(shí)驗儀實(shí)驗目的： 1、熟悉餾單元操作過(guò)程的設備與流程。 2、了解板式塔結構與流體力學(xué)性能。 3、掌握餾塔的操作方法與原理。 4、學(xué)習餾塔效率的測定方法。

    更新時(shí)間：2022-05-17
    產(chǎn)品型號：DP-JK-JL
    瀏覽量：1777
  • DP-HL-IV霍爾效應實(shí)驗儀

    霍爾效應實(shí)驗儀實(shí)驗內容： 1、霍爾電壓與霍爾電流的關(guān)系； 2、霍爾電壓與勵磁電流的關(guān)系； 3、電磁鐵氣隙處X方向磁場(chǎng)強度的分布； 4、電磁鐵氣隙處Y方向磁場(chǎng)強度的分布； 5、測量磁感應強度； 6、測量電磁鐵鐵芯的磁導率

    更新時(shí)間：2022-05-13
    產(chǎn)品型號：DP-HL-IV
    瀏覽量：1396
  • DP-I穩態(tài)平板法測定熱材料導熱系數實(shí)驗臺

    穩態(tài)平板法測定熱材料導熱系數實(shí)驗臺術(shù)參數：穩態(tài)平板法是種應用維穩態(tài)導熱過(guò)程的基本原理來(lái)測定材料導熱系數的方法，可以用來(lái)行導熱系數的測定試驗，測定材料的導熱系數及其與溫度的關(guān)系；可測導熱系數在：0.02～400 w/(m.k)的200×200×20何材料。

    更新時(shí)間：2022-05-11
    產(chǎn)品型號：DP-I
    瀏覽量：1231
  • DP-RLE-SA02光纖光譜儀應用綜合實(shí)驗儀

    光纖光譜儀應用綜合實(shí)驗儀實(shí)驗內容 ????? 1、利用反射光譜測定印刷品顏色； ????? 2、利用透射光譜測定濾光片透過(guò)率； ????? 3、利用等離子體光譜測定氣體成分； ????? 4、利用白光干涉測定薄膜厚度測量。

    更新時(shí)間：2022-05-11
    產(chǎn)品型號：DP-RLE-SA02
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