表面磁光克爾效應實(shí)驗系統它在磁性薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應用。應用該系統可以自動(dòng)掃描磁性樣品的磁滯回線(xiàn)，從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外，該系統可以和真空系統相連，對磁性薄膜和薄膜行原位測量。

1.表面磁光克爾效應實(shí)驗系統   型號；DP-FD-SMOKE-A

在 1845年，Michael Faraday發(fā)現了磁光效應，他發(fā)現當外加磁場(chǎng)加在玻璃樣品上時(shí)，透射光的偏振面將發(fā)生旋轉的效應，隨后他在外加磁場(chǎng)之金屬表面上做光反射的實(shí)驗，但由于他所謂的表面并不夠平整，因而實(shí)驗結果不能使人信服。1877年John Kerr在觀(guān)察偏振化光從拋光過(guò)的電磁鐵磁反射出來(lái)時(shí)，發(fā)現了磁光克爾效應(magneto-optic Kerr effect)。1985年Moog和Bader兩位學(xué)者行鐵薄膜磊晶成長(cháng)在金單晶(100)面上的磁光克爾效應量做實(shí)驗，成地得到原子層厚度磁性物質(zhì)之磁滯回線(xiàn)，并且提出了以SMOKE來(lái)作為表面磁光克爾效應 (surface magneto-optic Kerr effect)的縮寫(xiě)，用以表示應用磁光克爾效應在表面磁學(xué)上的研究。由于此方法之磁性解析靈敏度達原子層厚度，且儀器配置合于真空系統之作，因而成為表面磁學(xué)的重要研究方法。

　　表面磁光克爾效應實(shí)驗系統它在磁性薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應用。應用該系統可以自動(dòng)掃描磁性樣品的磁滯回線(xiàn)，從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外，該系統可以和真空系統相連，對磁性薄膜和薄膜行原位測量。

　　儀器主要術(shù)參數：

　　1．半導體激光器 波長(cháng) 650nm 輸出率 2mW

　　2．偏振棱鏡 格蘭－湯普遜棱鏡 通光孔徑 8mm 消光比10 －5 主透射比90％

　　3．電磁磁鐵 中心大磁感應強度0.3T 磁間隙 30mm

　　4．密恒流電源 大電壓 38V 大輸出電流 10A

2.磁塞曼效應實(shí)驗儀         型號；DP-FD-ZM-A

　在大專(zhuān)院校的實(shí)驗教學(xué)中，塞曼效應是經(jīng)典的近代物理實(shí)驗內容，通過(guò)該實(shí)驗現象的觀(guān)察，可以了解磁場(chǎng)對光產(chǎn)生的影響，認識發(fā)光原子內的運動(dòng)狀態(tài)，加深對原子磁矩和空間取向量子化的理解，并確測量電子的荷質(zhì)比。

　 DP-FD-ZM-A型磁塞曼效應實(shí)驗儀與儀器相比具有以下特點(diǎn)：

　　1．磁場(chǎng)由磁鐵提供，具有穩定性好，中心磁感應強度的特點(diǎn)；并且通過(guò)機械調節改變磁頭間距，調節中心的磁感應強度。

　　2．實(shí)驗儀的磁鐵和光學(xué)導軌固定連接，導軌由鋁合金型材制成，表面陽(yáng)氧化，不生銹，并且導軌上配有標尺，這樣實(shí)驗調節方便，重復性好。

　　3．實(shí)驗儀配有度特斯拉計，可以確測定中心磁感應強度。

　　DP-FD-ZM-A型磁塞曼效應實(shí)驗儀主要由實(shí)驗儀主機（包括特斯拉計、汞燈電源）、磁鐵、筆形汞燈、會(huì )聚透鏡、干涉濾光片、F-P標準具、偏振片、成像透鏡、讀數顯微鏡組成。選配件：象素CCD采集系統、USB口外置圖像采集盒、塞曼效應實(shí)驗分析軟件。

　　儀器主要術(shù)參數：

　　1．磁鐵中心磁感強度 1360mT

　　2．標準具通光口徑 40mm

　　3．標準具空氣隙間隔 2mm

　　4．濾光片中心波長(cháng) 546.1nm

　　5．讀數顯微鏡度 0.01mm

　　6．特斯拉計分辨率 1mT

　　7．CCD有效象素（選配）752×582

3.法拉效應塞曼效應綜合實(shí)驗儀         型號；DP-FD-FZ-C

1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學(xué)現象之間的聯(lián)系時(shí)，發(fā)現了種現象，當束平面偏振光穿過(guò)介質(zhì)時(shí)，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加個(gè)磁場(chǎng)，就會(huì )觀(guān)察到光經(jīng)過(guò)樣品后偏振面轉過(guò)個(gè)角度，亦即磁場(chǎng)使介質(zhì)具有了旋光性，這種現象后來(lái)稱(chēng)為法拉效應。1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現當光源放在足夠強的磁場(chǎng)中時(shí)，原來(lái)的條光譜線(xiàn)分裂成幾條光譜線(xiàn)，分裂的譜線(xiàn)成分是偏振的，分裂的條數隨能級的類(lèi)別而不同，后人稱(chēng)此現象為塞曼效應。法拉效應和塞 曼 效應是19紀實(shí)驗物理學(xué)家的重要成就之，它們有力的支持了光的電磁理論。

　　DP- FD-FZ-C型法拉效應塞 曼 效應綜合實(shí)驗儀是在I型的基礎上改而成，將原來(lái)維調節的氦氖激光器改為兩維調節的半導體激光器，這樣成法拉效應時(shí)調節更加準確方便，并且激光輸出率更加穩定。電磁鐵中心磁場(chǎng)強度也比以前有了顯著(zhù)提，大可以達到1.4T。測角儀器將原來(lái)的游標測量的方法改為螺旋測微（將角位移轉換為直線(xiàn)位移），這樣讀數更加方便。該實(shí)驗儀可以作為大專(zhuān)院校光學(xué)及近代物理實(shí)驗教學(xué)使用，也可以作為測量材料特性、 光譜及磁光 作用的研究應用。

　　儀器主要術(shù)參數：

　　1. 半導體激光器 波長(cháng) 650nm 輸出率 >1.5mW 光斑直徑 約1mm

　　2. 電磁鐵 磁感應強度約1.35T（與勵磁電源有關(guān)）

　　3. 勵磁電源 輸出電流 5A 輸出電壓 30V

　　4．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm

　　5．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm

　　6．讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm

　　7．法拉效應 小測角約 2分

4.磁光效應綜合實(shí)驗儀（法拉效應和磁光調制）         型號；DP-FD-MOC-A

1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學(xué)現象之間的聯(lián)系時(shí)，發(fā)現了種現象，當束平面偏振光穿過(guò)介質(zhì)時(shí)，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加個(gè)磁場(chǎng)，就會(huì )觀(guān)察到光經(jīng)過(guò)樣品后偏振面轉過(guò)個(gè)角度，亦即磁場(chǎng)使介質(zhì)具有了旋光性，這種現象后來(lái)稱(chēng)為法拉效應。

　　法拉效應有許多應用，它可以作為物質(zhì)研究的手段，可以用來(lái)測量載流子的有效質(zhì)量和提供能帶結構的知識，還可以用來(lái)測量電路中的電流和磁場(chǎng)，特別是在激光術(shù)中，利用法拉效應的特性可以制成光隔離器、光環(huán)形器和調制器等。

　DP-FD-MOC-A型磁光效應綜合實(shí)驗儀，是臺綜合研究磁光效應的實(shí)驗儀器，通過(guò)該實(shí)驗儀可以學(xué)習法拉效應的原理，并通過(guò)偏振光正交消光法測量樣品的費爾德常數，還可以通過(guò)磁光調制的方法確定消光位置，從而提測量度，這種由淺入深的測量方法使學(xué)生理解測量的科學(xué)方法。并通過(guò)調制的方法可以確測量不同磁光樣品的光學(xué)特性和特征參量，另外該儀器可以顯示磁光調制波形，觀(guān)測磁光調制現象，研究調制幅度和調制深度的原理。本儀器有下列特性：1）可對磁光效應差異懸殊的多種磁光介質(zhì)行實(shí)驗；2）具有大幅度的交流調制信號和直流勵磁，且穩流勵磁正負連續可調；3）光強輸出大小用數字顯示，確直觀(guān)；4）調制光接收靈敏度，輸出波形穩定；5）檢偏裝置帶游標測角機構，分辨率。

　　儀器主要術(shù)參數：

　　1．磁光介質(zhì) 法拉旋光玻璃

　　2．激光光源 半導體激光器（波長(cháng)650nm）輸出率 <2.5mW

　　3．直流勵磁電流 0—5A(連續可調，數字顯示)

　　4．調制信號 頻率500Hz(正弦波)

　　5．起偏器角度分辨率 1度

　　6．檢偏分辨率 約3分

5.微波鐵磁共振實(shí)驗儀       型號；DP-FD-FMR-A

鐵磁共振在磁學(xué)乃至固體物理學(xué)中都占有重要地位，它是微波鐵氧體物理學(xué)的基礎。微波鐵氧體在雷達術(shù)和微波通訊方面都已經(jīng)獲得重要應用。DP-FD-FMR-A 型微波鐵磁共振實(shí)驗儀是用來(lái)成鐵氧體樣品鐵磁共振曲線(xiàn)測量實(shí)驗教學(xué)的近代物理實(shí)驗儀器，它主要用來(lái)測量 YIG 單晶和多晶樣品的共振譜線(xiàn)，測量 g 因子、旋磁比γ 、 共振線(xiàn)寬ΔH 以及弛豫時(shí)間 τ ， 并分析微波系統的特性。該儀器具有測量準確、穩定可靠、實(shí)驗內容豐富等優(yōu)點(diǎn)，可以用于物理年級學(xué)生專(zhuān)業(yè)實(shí)驗以及近代物理實(shí)驗。

儀器主要成以下實(shí)驗：

1． 了解和掌握各個(gè)微波 器件的能及其調節方法，了解鐵磁共振的測量原理和實(shí)驗條件，通過(guò)觀(guān)測鐵磁共振現象認識磁共振的般特性。

2．通過(guò)示波器觀(guān)察YIG多晶小的鐵磁共振信號，確定共振磁場(chǎng)，根據微波頻率計算單晶樣品的g因子和旋磁比 γ。

3．通過(guò)數字式檢流計測量諧振腔輸出率與磁場(chǎng)的關(guān)系，描繪共振曲線(xiàn)，確定共振磁場(chǎng)Hγ，并根據測量曲線(xiàn)確定共振線(xiàn)寬ΔH ，估算 YIG多晶樣品的弛豫時(shí)間 τ。

4．測量已經(jīng)定向的YIG單晶樣品共振磁場(chǎng)與θ 的關(guān)系，確定易磁化軸共振磁場(chǎng) H0[111] 與難磁化軸共振磁場(chǎng) H0[001]的大小，計算各向異性常數 K1 與 g 因子。

儀器主要術(shù)參數：

1．微波頻率計 測量范圍 8.2GHz-12.4GHz 分辨率 0.005GHz

2．數字式斯計 量程：20000Gs 分辨率 1Gs

3．勵磁電源：0－6V 連續可調，分辨率0.01V

4. 調制磁場(chǎng)： 50Hz，0－16V（峰峰值）連續可調

5. 檢流計： 20mA檔 分辨率0.01mA 2mA檔 分辨率0.001mA

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