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平均粒度測試儀/平均粒度檢測儀 型號:DP-WLP-209

更新時(shí)間:2015-12-29點(diǎn)擊次數:1323

平均粒度測試儀/平均粒度檢測儀 型號:DP-WLP-209

DP-WLP-209型平均粒度測試儀根據家標準(費氏法)要求,在對被測粉末試樣施壓時(shí),采用了LTDK型可設定空轉式扭矩起子,(非同其他儀器所使用無(wú)科學(xué)依據的壓力校正器)。采用LTDK型扭矩起子,可使何操作人員在對粉末測試過(guò)程中均可達到相同的壓制力,地得到同種*孔隙度,消除了人為誤差,使被測粉末粒徑更加準確,同時(shí)本儀器配有雙向擴展讀數板,孔隙度范圍由原來(lái)的0.80—0.40(擴到0.95—0.80、擴到0.40—0.25),滿(mǎn)足了各種粉末測試需求。

標:

1、度:±3%
2、測試范圍: 0.2-50 μ m (微米)
   *檔: 0.2-20 μ m
   二檔: 20-50 μ m
3.孔隙度范圍:0.95-0.80
       0.80-0.40
       0.40-0.25
4、準確度:±3%
5、環(huán)境濕度:相對濕度 ≤80%
6、環(huán)境溫度: 25 ± 10 ℃
7、電源: ~220 ± 22V 50赫茲
8、率: 25W
9、重量: 18kg
10、外型尺寸: 746 × 394 × 240mm3

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